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PF6原子熒光光度計受空白熒光的影響分析

更新時(shí)間:2021-10-22      點(diǎn)擊次數:902
  PF6原子熒光光度計屬于普析的中產(chǎn)品系列,采用氣源式順序流動(dòng)注射、免調燈、卷流式氣液分離器、雙光束等普析原創(chuàng )性技術(shù),繼承改良了石英原子化器、非色散短焦距光路等傳統原子熒光制造技術(shù)。
  
  光度計是通過(guò)測量待測元素的原子蒸氣在輻射能激發(fā)下產(chǎn)生的熒光發(fā)射強度,來(lái)確定待測元素含量的方法。氣態(tài)自由原子吸收特征波長(cháng)輻射后,原子的外層電子從基態(tài)或低能級躍遷到高能級經(jīng)過(guò)約10-8s,又躍遷至基態(tài)或低能級,同時(shí)發(fā)射出與原激發(fā)波長(cháng)相同或不同的輻射,稱(chēng)為原子熒光。
  
  PF6原子熒光光度計很容易受到各種因素的影響與干擾,其中表現較多的為空白熒光強度過(guò)高且不穩定。下面我們就來(lái)看看吧!
  
  故障表現為測定某種元素前,試劑空白測試時(shí),經(jīng)常出現熒光強度在1000~8000范圍內大幅度波動(dòng)的現象,甚至導致超出儀器的測量范圍而提示信號溢出。
  
  在排除儀器流路和容器污染以及實(shí)驗用水因素后,配制不同濃度的酸溶液上機試驗,如果熒光強度值隨酸度降低而成比例減小,即可確定上述故障現象由介質(zhì)所導致。
  
  此故障在更換合格介質(zhì)后儀器多能自動(dòng)恢復正常。
  
  由此建議,PF6原子熒光光度計在整個(gè)實(shí)驗過(guò)程使用的酸為優(yōu)級純,為達到滿(mǎn)意的實(shí)驗結果,應簡(jiǎn)化實(shí)驗步驟。
  
  若實(shí)驗方法允許,可將樣品處理、標準系列配制和載流所用介質(zhì)保持一致,以便將介質(zhì)影響降到小。

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